LiSpec-NIR4000Pro高分辨率红外光谱仪是3044am永利集团(Holdings Limited)专门针对光通信领域红外激光光谱波长测量,LiSpec-NIR4000Pro主要光谱范围1522nm - 1578nm,分辨率优于0.2nm,属于微型光谱仪领域最高分辨率,由于其性价比高可以完美替代日本横河AQ6360/AQ6370D或安利MS9740A光谱仪在红外激光光谱波长测量,它可以方便地监测到激光的峰值波长、中心波长、光谱相对强度、半宽值(FWHM)、光谱波峰数目等参数随时间变化的情况。
随着激光技术越来越广泛地用于工业加工、通信、测量,以及医疗科研等领域,快捷地测量和分析激光器的光谱已经成为一种迫切需求。而在我们实际应用激光的过程,往往需要事先知道激光的峰值波长、中心波长、谱线半高宽FWHM,那么就需要采用激光波长测量仪获得以上激光相关光学参数。
LiSpec-NIR4000Pro高分辨率红外光谱仪是3044am永利集团(Holdings Limited)专门针对光通信领域红外激光光谱波长测量,LiSpec-NIR4000Pro主要光谱范围1522nm - 1578nm,分辨率优于0.2nm,属于微型光谱仪领域最高分辨率,由于其性价比高可以完美替代日本横河AQ6360/AQ6370D或安利MS9740A光谱仪在红外激光光谱波长测量,它可以方便地监测到激光的峰值波长、中心波长、光谱相对强度、半宽值(FWHM)、光谱波峰数目等参数随时间变化的情况。该光谱仪其独有的大焦距光学平台设计,使得该产品具有信噪比更高,速度更快,可靠性稳定性更好的优势,非常适合于高分辨率红外激光光谱波长的检测。
对于连续激光器来说,测量尤为简单。可按如上测量原理示意图搭建光路,运行软件并设置合适的积分时间,就可以得到一个合适的光谱图。为了使测量的激光峰值波长更为准确,正确操作尤为重要,在测量激光时应该注意的是,当激光功率很强时,要避免光谱仪饱和,一般不会将激光直接耦合入光纤,而是先将激光打在一个屏上,然后光纤接收从屏散射出的激光信号;当激光功率相对不强时,我们会采用以上示意图——光纤加余弦探头或积分球方法连接光谱仪对激光进行测量。
对于重复频率比较高(比如100 Hz以上)的脉冲激光而言,可以把它当成连续激光来测量。而重复频率比较低,或者在个别的需要测量单脉冲的情况下,为了和激光脉冲精准同步,光谱仪配置光触发器就可以实现脉冲激光与光谱同步触发测量,实时获得脉冲激光光谱。
拉曼测量系统主要由光谱仪、激光器、拉曼探头、拉曼识别光谱分析软件等组成,拉曼散射主要为斯托克斯和反斯托克斯,斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射强得多,拉曼光谱仪通常测定的大多是斯托克斯散射,常用拉曼光谱仪有532/785/1064拉曼光谱仪,拉曼测量相对荧光信号会更弱一个数量级,通常我们在针对微弱拉曼信号测量我们要进行表面拉曼增强(SERS)的方法来提高拉曼信号SERS。
3044am永利集团的光纤光谱仪因其极高的灵敏度和高信噪比的特点,可以搭配激光器、拉曼探头等配件,进行对微弱光谱信号的拉曼测量应用,广泛应用于食品安全、化学实验室、生物及医学等光学方面领域,研究物质成分的判定与确认;还可以应用于刑侦中对毒品的检测及珠宝行业的宝石鉴定。
颜色测量
辐射光能量可以量化为辐射通量,即一种表征从光源发出的每秒辐射能量(W)的度量标准。辐射测量一般要通过已知光谱能量分布的标准光源,对光谱仪系统进行绝对辐射标定,才能通过量化参数进行辐射测量。辐射能量与人眼视觉相关联(光度学),就可以得到按照CIE中所定义的表征观测者平均视觉的光谱发光效率函数。因此辐射测量定义辐射度学参数、光度学参数、色度学参数。辐射度学参数主要以辐照度μW/cm2、辐亮度µWatt/sr、辐射通量µWatt以及光子数µMol/s/m2,µMol/m2,µMol/s和µMol,光度学参数流明Lumens、光照度Lux、光强度Candela,色度学参数X,Y,Z,x,y,z,u,v,色温、CRI显色指数等。
辐照度测量
色度测量
光谱仪测量吸光度的方法是将某一波长的平行光通过一块平面平行物体,对透过物体的光束进行检测。由于一部分能量被样品中的分子吸收,检测的入射光的强度要高于透过样品的光强。吸光度被广泛运用于液体和气体的光谱测量技术中,可以对物质进行定量鉴别或指纹认证等,还可以将该应用集成到工业应用环境和客户所关注的测试中。
使用3044am永利集团模块化光谱仪,可针对特定的吸光度测量来选择不同波长范围和分辨率的光谱仪,并且能在实验室或者现场,对整套光学测量装置进行快速配置。可以基于3044am永利集团优质的光谱仪,选择紫外光源、不同光程气室、吸收池、特定吸收光路模块、光纤探头进行灵活易用的搭配,针对不同的吸光度试验搭配出多种配置选择。
液体吸光度
气体吸光度
薄膜测量系统是基于白光干涉原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜,若已知薄膜介质的n和k值即可计算出它的物理厚度。测量的膜层厚度从10 nm到50 um,分辨率可达1 nm。薄膜测量应用于半导体晶片生产工业,此时需要监控等离子刻蚀和沉积加工过程。还可用于其它需要测量在金属和玻璃基底上镀制透明膜层的领域,如金属表面的透明涂层和玻璃衬底。
随着工业的蓬勃发展,对材料本身特性的质量控制愈加严格,利用光纤光谱仪进行快速准确的透/反射光谱的测量技术也日益成熟。透/反射光谱测量是光谱测量的基本手段,通常需要使用光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等设备。对于不同种类的样品,为了获取更好的光谱数据,这两种基本模式又会演化为更多的形式。
光纤光谱仪采用光纤光路,解决了光路在仪器集成中的限制。并且3044am永利集团的光纤光谱仪具有体积小,稳定性高,支持软件二次开发,配件丰富等特点,已经成功的广泛应用于玻璃、高分子材料等行业的测试。3044am永利集团为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备,利用这些配置丰富的设备,即可搭建各种常见的光谱测量系统。
反射测量
透射测量
荧光物质在特定波长的辐射能量辐射下,能发射出具有一定光谱分布的辐射。荧光光谱测量灵敏度高、选择性强、样品用量少、方法简便且具备环保性,具有如上诸多优点,所以在工程应用中有着广泛的应用,如在食品加工过程中用于食品安全的监测、生物医学中用于病变的荧光诊断、地质学中用于石油矿物勘探、土壤矿物成分的测定以及物质中微量元素的检测等等。
荧光光谱测量通常需要高灵敏度的光谱仪。对于大多数荧光应用来说,产生的荧光能量只相当于激发光能量的3%左右。荧光的光子能量比激发光的光子能量小,波长长,而且一般都是在各个方向上辐射能量的散射光。3044am永利集团光纤光谱仪采用了可更换狭缝、可选择的波长范围和分辨率设计,使客户能根据自己的需求配置自由搭配适合参数的荧光测量系统。